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明暗场金相显微镜在晶圆分析中的运用
所属分类:显微镜百科 点击次数:156 发布日期:2022-07-01
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明暗场金相显微镜在晶圆分析中的运用
近年来,对科技研发的投入正逐步加大,对半导体行业越来越重视,已经将集成电路作为重点发展的战略产业之一,电子行业正迅速壮大。作为全球重要的电子制造基地,中国的电子应用市场巨大,对芯片、晶圆的需求量也比较大。
众所周知,晶圆是制造芯片的原材料,晶圆便是硅元素加以纯化(99.999%),接着是将这些纯硅制成硅晶棒,成为制造集成电路的石英半导体的材料,经过照相制版,研磨,抛光,切片等程序,将多晶硅融解拉出单晶硅晶棒,然后切割成一片一片薄薄的晶圆。随着半导体制造技术尺寸的不断缩小,制造工艺也越来越复杂,晶圆的制造和封装是个涉及几百步工艺的相当长而复杂的过程,这些步骤绝不可能每次都完美进行,污染和材料的变化将结合到工艺中会造成晶圆的缺陷损失。在晶圆的制造工艺中,缺陷已成为制约良率提升的关键,维持及提高工艺和产品的良品率对半导体工业至关重要。
因此先进的分析技术可有效的侦测其表面缺陷,并及时将分析检测结果反馈给优化单元就变得十分重要。通常半导体制造过程中,显微镜应用比较多。在前段制程制的晶圆处理制程中,蚀刻后就需要用到光学显微镜。在后段的构装过程中,晶圆研磨、晶圆上片、晶圆切割、焊线、印字、检验等都需要用到显微镜,生产线也将根据检测需求选择不同的显微镜。
晶圆要求显微镜可以带来更加配合的功能,硬件与软件的结合,智能化,人性化。因为晶圆生产迅速且数量多,因此通常使用自动化系统对其进行检测。但是,这些系统的光学分辨率可能不足,从而使系统难以识别小的缺陷,因此,使用显微镜进行目测是方法。为简化检测过程,许多制造商已从使用光学显微镜转换为使用数字式显微镜。虽然这可以在一定程度上简化过程,但大多数数字式显微镜仍要求用户每次更换观察方法时更换镜头。而且,更换镜头时,观察位置很容易改变,从而迫使您花时间重新对焦。不仅如此,载物平台的大小会限制对晶圆的观察。工作距离的高低、操作空间的大小以及可调性会直接影响晶圆的良品率,因为工作距离低会触碰污染甚至损伤晶圆。明场观察、暗场观察、偏光观察功能的优劣,抗震功能的优劣都影响着晶圆缺陷的检测。
老上光视界公司的明暗场显微镜在晶圆分析中具有明显优势。因为其显微镜的特别之处在于大移动工作台8寸,甚至10寸,工作距离高,不容易碰触到晶圆,从而不会损伤到它;操作空间可调,在研发的时候有可以有接触式的检查分析,镜头下方可便人工操作或其它介入操作;且具有良好的科学抗震功能。
其可准确反映表征构成材料的像和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷(例如位错)的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。
科技创新是大势所趋,而提高现代化的产品品质的创新,就须从这微观检查入手,显微技术交流微信号:weetorpt .
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