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微分干涉显微镜的运用
所属分类：显微镜百科 点击次数：285 发布日期：2022-07-01
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通过微分干涉显微镜来对材料进行显微分析，可以采用微分干涉相衬法做为一种观察方式使用。 微分干涉相衬法(DIC)做为一个比较先进的金相分析检验的方式，它对试样的制作要求比较低。
微分干涉能够非常容易判断许多明场下所看不到的一些结构细节或缺陷，可以拍摄彩色的显微照片。显微观察到的试样组织的相对层次关系非常明显，呈明显的浮雕状，裂纹、孔洞、对颗粒和凸起都可以很方便的做出正确的判断。
在金相显微镜检验方法中，微分干涉相衬法(DIC)是金相检验的一种强有力的工具，其特点主要为:
1、微分干涉对金相样品的制样要求比较低，对于某些金相试样，甚至可以只需进行抛光，而不必腐蚀处理即可进行观察。它可以很简单的就可以观察到试样物体表面的状态情况，如果把试样进行抛光以后在真空的状态下发生马氏体的相变，不用进行腐蚀也可观测到马氏体的相变浮凸形态。
2、所观察到的试样的表面具有非常明显的凹凸立体感，呈浮雕状，试样各种组成相间的相对层次关系都能清晰的显示出来，对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等都可以正确的判断，提升了金相检验的准确度，同时也增加了各相间的反差。
目前在世界范围中基于微分干涉相衬法所进行材料金相研究的工作非常少。原因主要有两个方面:一方面是现在配备了微分干涉相衬部件的金相显微镜不交少；另一方面，许多材料科学研究人员还没有发现微分干涉相衬法在材料研究中优点。
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