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XRF镀层测厚仪的原理是什么?
所属分类：显微镜百科 点击次数：269 发布日期：2022-07-02
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XRF镀层测厚仪的原理是什么?
日期：2022-06-29 10:45
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摘要：
XRF镀层测厚仪俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等，主要用于精密测量金属电镀层的厚度。XRF镀层测厚仪： 俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等； 功能：精密测量金属电镀层的厚度； 应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从12(Mg)到92(U); 5 层 (4 镀层 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光谱定性分析; 测试方法**符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987 应用群体主要集中在：电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀、珠宝首饰、汽车配件、检测机构以及研究所和高等院校等；原理：X射线荧光 什么是X射线?X射线存在于电磁波谱中的一个特定区域,它由原子内部电子跃迁产生,其波长范围在0.1-100Å;能量大于100电子伏特. 什么是X射线荧光?X射线荧光 是一个原子或分子吸收了特定能量的光子后释放出较低能量的光子的过程。射线管的对比： 微焦X射线管在更小的束斑下，激发更高的荧光X射线强度， 更高计数率，改善分析精度，到达更小的激发X射线束斑.
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